Digital holography for MEMS application
Studies on digital holographic microscopy for full field high resolution 3-D profiling of MEMS and micro-devices are presented. Applications for thin film thickness measurement and studies on a MEMS accelerometer are presented.
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
اللغة: | English |
منشور في: |
2011
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/101298 http://hdl.handle.net/10220/7116 http://www.opticsinfobase.org/abstract.cfm?uri=DH-2009-JTuA2 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|