Material characterizations of high refractive films for active waveguide

The fabrication of SiON and Erbium (Er) doped SiON films have been successfully developed using the sputtering and co-sputtering techniques. The properties of the films such as the optical properties, the compositions, the chemical bonds and the microstructures, have been well characterized and s...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Kantisara Pita.
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: Research Report
اللغة:English
منشور في: 2008
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://hdl.handle.net/10356/14234
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English