Material characterizations of high refractive films for active waveguide
The fabrication of SiON and Erbium (Er) doped SiON films have been successfully developed using the sputtering and co-sputtering techniques. The properties of the films such as the optical properties, the compositions, the chemical bonds and the microstructures, have been well characterized and s...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Research Report |
اللغة: | English |
منشور في: |
2008
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/14234 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|