Fabrication of vertical side-wall submicron emitter for heterojunction bipolar transistors
In this investigation, several dry etching processes have been systematically studied for submicron emitter formation for metamorphic heterojunction bipolar transistor (MHBT) devices. CH4/H2/O2 chemistry is shown to offer better side wall etch profile and smoother surface compared to other gas mixtu...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Research Report |
اللغة: | English |
منشور في: |
2008
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/14525 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
كن أول من يترك تعليقا!