A new computational approach for three-dimensional singular stress analysis of interface voids

Defects in terms of three-dimensional voids are commonly encountered at bi-material interfaces. In the current study, the singular stress field near the circumferential corner line of a three-dimensional axisymmetric interfacial void is analyzed using our newly established singular interface edge el...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Zhang, Yuxuan, Ping, Xuecheng, Wang, Congman, Xiao, Zhongmin, Yang, Jiyuan, Chen, Mengcheng
مؤلفون آخرون: School of Mechanical and Aerospace Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2021
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/151864
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!