Recognizing beam profiles from silicon photonics gratings using a transformer model

Over the past decade, there has been extensive work in developing integrated silicon photonics (SiPh) gratings for the optical addressing of trapped ion qubits among the ion trap quantum computing community. However, when viewing beam profiles from gratings using infrared (IR) cameras, it is often d...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Lim, Yu Dian, Li, Hong Yu, Goh, Simon Chun Kiat, Wang, Xiangyu, Zhao, Peng, Tan, Chuan Seng
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2024
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/180856
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English