Experimental and analytical characterization of short channel MOSFETS

• المؤلف الرئيسي: Yeo, Kiat Seng
• مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
• التنسيق: Research Report
• منشور في: 2008
• الموضوعات: DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering::Electronic circuits
• الوصول للمادة أونلاين: http://hdl.handle.net/10356/2722

Present the characterization of deep-sub-micrometer lightly-Doped Drain pMOSFETS operating in a Bi-MOS structure.