Investigation of low temperature wafer bonding using intermediate layer

In this project, the sol-gel intermediate layer bonding is demonstrated to provide high bond strength at low temperature (such as 100 degree celsius).

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Deng, Shusheng
مؤلفون آخرون: Tan, Cher Ming
التنسيق: Theses and Dissertations
منشور في: 2008
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://hdl.handle.net/10356/4209
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!