Thermal modeling and characterization for power devices (IGBT)
Temperature junction constraints in power semiconductor devices are one of the factors that can determine whether it would change in its operation or go into failure. It is thus essential to create models and characterization techniques to determine this effect of junction temperature on the power s...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Final Year Project |
اللغة: | English |
منشور في: |
2011
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/45467 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |