Variability study of nanowire: a compact model application
57 p.
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Machavolu Kamakshi Srikanth |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Zhou Xing |
التنسيق: | Theses and Dissertations |
منشور في: |
2011
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/46755 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Compact modeling of gate-all-around silicon nanowire MOSFETs
بواسطة: Lin Shihuan
منشور في: (2012) -
Characterization and modelling of silicon nanowire based diode
بواسطة: Chia, Hua Chew.
منشور في: (2009) -
Study of erbium disilicide and its application in Schottky source/drain silicon nanowire MOSFETs
بواسطة: Tan, Eu Jin
منشور في: (2010) -
Gate-all-around silicon nanowire FET modeling
بواسطة: Chen, Xiangchen
منشور في: (2014) -
Study of semiconductor nanowires embedded in organic matrix
بواسطة: Raghul, Suthagar
منشور في: (2010)