Development of failure criterion and reliability model for plastic encapsulated microcircuits at elevated environment

The strength of the interfaces between dissimilar materials that make up an electronic component has important consequence on its failure mechanism. The mechanical integrity of such devices is thus determined by a material property that characterizes the resistance of material interface to fracture....

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Poon, Wai Kiong.
مؤلفون آخرون: Ang, Hock Eng
التنسيق: Theses and Dissertations
منشور في: 2008
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://hdl.handle.net/10356/6280
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University