Influence of solid-state interfacial reactions on the tensile strength of Cu/electroless Ni–P/Sn–3.5Ag solder joint

Tensile strength and fracture behavior of Cu/electroless Ni–P/Sn–3.5Ag (wt.% Ag) solder joint were investigated under high-temperature solid-state aging. The aging results showed that the Ni3Sn4 intermetallic phase grows at the electroless Ni–P/Sn–3.5Ag interface, along with the transformation of th...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Kumar, Aditya, Chen, Zhong
مؤلفون آخرون: School of Materials Science & Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2013
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/79900
http://hdl.handle.net/10220/9382
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English