Multi-colour microscopic interferometry for optical metrology and imaging applications
Interferometry has been widely used for optical metrology and imaging applications because of their precision, reliability, and versatility. Although single-wavelength interferometery can provide high sensitivity and resolution, it has several drawbacks, namely, it fails to quantify large-discontinu...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2016
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/80246 http://hdl.handle.net/10220/40566 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|