A non-contact measuring system for in-situ surface characterization based on laser confocal microscopy
The characterization of surface topographic features on a component is typically quantified using two-dimensional roughness descriptors which are captured by off-line desktop instruments. Ideally any measurement system should be integrated into the manufacturing process to provide in-situ measuremen...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2018
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/88968 http://hdl.handle.net/10220/46015 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |