A non-contact measuring system for in-situ surface characterization based on laser confocal microscopy

The characterization of surface topographic features on a component is typically quantified using two-dimensional roughness descriptors which are captured by off-line desktop instruments. Ideally any measurement system should be integrated into the manufacturing process to provide in-situ measuremen...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Fu, Shaowei, Cheng, Fang, Tjahjowidodo, Tegoeh, Zhou, Yu, Butler, David
مؤلفون آخرون: School of Mechanical and Aerospace Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2018
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/88968
http://hdl.handle.net/10220/46015
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English