Wavelet analysis of speckle patterns with a temporal carrier

A novel temporal phase-analysis technique that is based on wavelet analysis and a temporal carrier is presented. To measure displacement on a vibrating object by using electronic speckle pattern interferometry, one captures a series of sp...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Fu, Yu, Tay, Cho Jui, Quan, Chenggen, Miao, Hong
مؤلفون آخرون: Temasek Laboratories
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2010
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/92121
http://hdl.handle.net/10220/6468
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English