White light single-shot interferometry with colour CCD camera for optical inspection of microsystems
White light interferometry is a well-established optical tool for surface metrology of reflective samples. In this work, we discuss a single-shot white light interferometer based on single-chip color CCD camera and Hilbert transformation. The approach makes the measurement dynamic, faster, easier...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
اللغة: | English |
منشور في: |
2015
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/93716 http://hdl.handle.net/10220/38386 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
كن أول من يترك تعليقا!