Measurement of buried undercut structures in microfluidic devices by laser fluorescent confocal microscopy

Measuring buried, undercut microstructures is a challenging task in metrology. These structures are usually characterized by measuring their cross sections after physically cutting the samples. This method is destructive and the obtained information is incomplete. The distortion due to cutting also...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Li, Shiguang, Liu, Jing, Nguyen, Nam-Trung, Fang, Zhong Ping, Yoon, Soon Fatt
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2012
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/94260
http://hdl.handle.net/10220/7879
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English