GaN-on-Silicon integration technology
This work presents our recent progress on addressing two major challenges to realizing GaN-Silicon integration namely epitaxial growth of GaN-on-Silicon and CMOS-compatible process. We have successfully demonstrated 0.3-μm gate-length GaN HEMTs on 8-inch Si(111) substrate with fT of 28GHz and fmax o...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , , , , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
اللغة: | English |
منشور في: |
2013
|
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/98842 http://hdl.handle.net/10220/12826 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |