Maximization of SRAM energy efficiency utilizing MTCMOS technology

Higher-Vth devices in the cross-coupled latches and the write access transistors, and lower-Vth devices in the read ports are preferred for reducing leakage current without sacrificing performance. However, at ultra-low supply voltage levels, higher-Vth devices can retard or nullify energy efficienc...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Wang, Bo, Zhou, Jun, Kim, Tony Tae-Hyoung
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: Conference or Workshop Item
اللغة:English
منشور في: 2013
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/99114
http://hdl.handle.net/10220/12584
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!