XPS study of incident angle effects on the ion beam modification of InP surfaces by 6 keV O2 +

• المؤلفون الرئيسيون: Pan, J.S., Tay, S.T., Huan, C.H.A., Wee, A.T.S.
• مؤلفون آخرون: PHYSICS
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/113231
• المؤسسة: National University of Singapore

10.1002/(SICI)1096-9918(199911)27:113.0.CO;2-J