A SPECTROSCOPIC PHOTOEMISSION MICROSCOPY SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICE ANALYSIS
Master's
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | KOH LIAN-SER |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL ENGINEERING |
التنسيق: | Theses and Dissertations |
منشور في: |
2020
|
الوصول للمادة أونلاين: | https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/172118 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | National University of Singapore |
مواد مشابهة
-
Near infra-red (NIR) spectroscopic photon emission microscopy for semiconductor devices
بواسطة: LEN WEE BENG
منشور في: (2010) -
New spectroscopic photon emission microscope system for semiconductor device analysis
بواسطة: Liu, Y.Y., وآخرون
منشور في: (2014) -
Photoabsorption and MXCD in photoemission microscopy for characterisation of advanced materials
بواسطة: Fecher, G.H., وآخرون
منشور في: (2014) -
Lifetime mapping using femtosecond time-resolved photoemission electron microscopy
بواسطة: Koo, Norman Tze Wei, وآخرون
منشور في: (2025) -
Design and performance of a new spectroscopic photon emission microscope system for the physical analysis of semiconductor devices
بواسطة: Chan, D.S.H., وآخرون
منشور في: (2014)