Percolation theory based statistical resistance model for resistive random access memory

10.1063/1.5023196

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書目詳細資料
Main Authors: WANG LINGFEI, THEAN VOON YEW, AARON
其他作者: ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING
格式: Article
出版: AIP 2020
主題:
在線閱讀:https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/176214
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