Percolation theory based statistical resistance model for resistive random access memory

10.1063/1.5023196

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: WANG LINGFEI, THEAN VOON YEW, AARON
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: AIP 2020
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/176214
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!