Beyond conventional secondary electron imaging using spectromicroscopy and its applications in dopant profiling

10.1016/j.mtadv.2019.100012

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Han, W., Srinivasan, A., Banerjee, A., Chew, M., Khursheed, A.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: Elsevier Ltd 2022
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/213260
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!