Improved technique for measuring complex scattering coefficients of two-port microwave devices using only six power detectors
Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Yeo, S.P., Ang, C.K., Cheng, M. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL ENGINEERING |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/50628 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Improved technique for measuring complex reflection coefficients of microwave devices using only two power detectors
بواسطة: Yeo, S.P., وآخرون
منشور في: (2014) -
USING POWER DETECTORS TO MEASURE SCATTERING COEFFICIENTS OF MICROWAVE DEVICES
بواسطة: CHENG MIN
منشور في: (2020) -
Improved four-port instrument using two power detectors to measure complex reflection coefficients of microwave devices
بواسطة: Yeo, S.P., وآخرون
منشور في: (2014) -
Novel nine-port network analyser for measuring scattering coefficients of two-port devices
بواسطة: Yeo, S.P., وآخرون
منشور في: (2014) -
Improved design for multistate reflectometer (with two power detectors) for measuring reflection coefficients of microwave devices
بواسطة: Yeo, S.P., وآخرون
منشور في: (2014)