Advanced source/drain engineering for MOSFETs: Schottky barrier height tuning for contact resistance reduction

10.1149/1.3375592

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Yeo, Y.-C.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: Conference or Workshop Item
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/69243
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore