Breakdown predictions of microstrip interconnects and coplanar waveguide-built devices in the presence of HP-EMPs

• المؤلفون الرئيسيون: Yin, W.-Y., Dong, X.T., Mao, J., Li, L.-W.
• مؤلفون آخرون: TEMASEK LABORATORIES
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/69533

17th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2006