Study of in-depth defects using magneto-optical Kerr effect by measuring the magnetic hardness coefficient in magnetic thin films

• المؤلفون الرئيسيون: Leong, Siang Huei, Wang, Jian Ping, Low, Teck Seng
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/71883

Digests of the Intermag Conference