Study of in-depth defects using Magneto-optical Kerr Effect by measuring the magnetic hardness coefficient in magnetic thin films

10.1109/20.908917

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Leong, S.H., Wang, J.P., Low, T.S.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
التنسيق: Conference or Workshop Item
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/72946
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore