Optimal geometry for GeSi/Si super-lattice structure RBS investigation

10.1016/S0168-583X(01)01218-6

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Wielunski, L.S., Osipowicz, T., Teo, E.J., Watt, F., Tok, E.S., Zhang, J.
مؤلفون آخرون:	PHYSICS
التنسيق:	Conference or Workshop Item
منشور في:	2014
الموضوعات:	Channeling Depth resolution GeSi/Si super-lattice Glancing angle detection He RBS Muliple scattering
الوصول للمادة أونلاين:	http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/77474
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة:	National University of Singapore

مواد مشابهة