Interface roughness effects on the currents of resonant tunnelling hot electron transistor

10.1088/0022-3727/27/8/018

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Sheng, Hanyu, Chua, Soo-Jin
مؤلفون آخرون:	ELECTRICAL ENGINEERING
التنسيق:	مقال
منشور في:	2014
الوصول للمادة أونلاين:	http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/80620
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة:	National University of Singapore

الوصف
الملخص:	10.1088/0022-3727/27/8/018

مواد مشابهة