Interface roughness effects on the currents of resonant tunnelling hot electron transistor

10.1088/0022-3727/27/8/018

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書目詳細資料
Main Authors: Sheng, Hanyu, Chua, Soo-Jin
其他作者: ELECTRICAL ENGINEERING
格式: Article
出版: 2014
在線閱讀:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/80620
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實物特徵
總結:10.1088/0022-3727/27/8/018