Carrier transport in strained p-channel field-effect transistors with diamondlike carbon liner stressor

• المؤلفون الرئيسيون: Cheng, R., Liu, B., Yeo, Y.-C.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/82030

10.1063/1.3340947