Micro-Raman investigation of strain in GaN and Al xGa 1-xN/GaN heterostructures grown on Si(111)

• المؤلفون الرئيسيون: Tripathy, S., Chua, S.J., Chen, P., Miao, Z.L.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/82697
• المؤسسة: National University of Singapore

10.1063/1.1502921