Raman scattering studies in two kinds of Ge nanosystems under hydrostatic pressure
10.1002/pssb.200405210
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Teo, K.L., Shen, Z.X., Liu, L., Kolobov, A.V., Maeda, Y. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/84122 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | National University of Singapore |
مواد مشابهة
-
Raman scattering of germanium nanocrystals embedded in glass matrix under hydrostatic pressure
بواسطة: Liu, L., وآخرون
منشور في: (2014) -
Raman scattering investigation of a Ge/SiO2/Si nanocrystal system under hydrostatic pressure
بواسطة: Liu, L., وآخرون
منشور في: (2014) -
Raman scattering studies of Ge/Si islands under hydrostatic pressure
بواسطة: Teo, K.L., وآخرون
منشور في: (2014) -
Raman scattering of Ge/Si dot superlattices under hydrostatic pressure
بواسطة: Qin, L., وآخرون
منشور في: (2014) -
Effects of hydrostatic pressure on Raman scattering in Ge quantum dots
بواسطة: Teo, K.L., وآخرون
منشور في: (2014)