Linear relationship between H+-trapping reaction energy and defect generation: Insight into nitrogen-enhanced negative bias temperature instability

• المؤلفون الرئيسيون: Tan, S.S., Chen, T.P., Soon, J.M., Loh, K.P., Ang, C.H., Teo, W.Y., Chan, L.
• مؤلفون آخرون: CHEMISTRY
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/94158

10.1063/1.1593211