Analysis of stoichiometry of high-Tc superconducting films by RBS and PIXE methods
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Šandrik, R., Jergel, M., Štrbik, V., Nakamura, K., Ishii, A., Orlic, I., Tang, S.M., Watt, F. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | PHYSICS |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/95776 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
The study of the structural stability of multilayer systems by RBS and PIXE microbeam methods
بواسطة: Šandrik, R., وآخرون
منشور في: (2014) -
Virtual PIXE and RBS laboratory
بواسطة: Orlic, I., وآخرون
منشور في: (2014) -
Three-dimensional analysis of locally deposited silicon oxide on ferrite by a combination of microprobe RBS and PIXE
بواسطة: Kinomura, A., وآخرون
منشور في: (2014) -
Computer simulation of PIXE and μ-PIXE spectra for inhomogeneous thick target analysis
بواسطة: Loh, K.K., وآخرون
منشور في: (2014) -
Analysis of singapore marine sediments by PIXE
بواسطة: Tang, S.M., وآخرون
منشور في: (2014)