Effect of hydrogen partial pressure on optoelectronic properties of indium tin oxide thin films deposited by radio frequency magnetron sputtering method

Journal of Applied Physics

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Zhang, K., Zhu, F., Huan, C.H.A., Wee, A.T.S.
مؤلفون آخرون: PHYSICS
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/96310
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!