HRBS/channeling studies of ultra-thin ITO films on Si

• المؤلفون الرئيسيون: Malar, P., Chan, T.K., Ho, C.S., Osipowicz, T.
• مؤلفون آخرون: PHYSICS
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الموضوعات: High-resolution RBS; Interfacial strain; Ion channeling
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/96839

10.1016/j.nimb.2007.11.022