Impact of Lanthanum on positive-bias temperature instability - insight from first-principles simulation

The impact of lanthanum (La) on positive-bias temperature instability (PBTI) is examined via first-principles simulation of the electronic properties of the oxygen vacancy (VO) and vacancy-interstitial (VO-Oi) paired defects in the hafnium dioxide (HfO2) gate dielectric. The purpose is to understand...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Gu, Chen Jie, Ang, Diing Shenp
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/101387
http://hdl.handle.net/10220/18410
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English

مواد مشابهة