Impact of Lanthanum on positive-bias temperature instability - insight from first-principles simulation
The impact of lanthanum (La) on positive-bias temperature instability (PBTI) is examined via first-principles simulation of the electronic properties of the oxygen vacancy (VO) and vacancy-interstitial (VO-Oi) paired defects in the hafnium dioxide (HfO2) gate dielectric. The purpose is to understand...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Gu, Chen Jie, Ang, Diing Shenp |
---|---|
مؤلفون آخرون: | School of Electrical and Electronic Engineering |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2014
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/101387 http://hdl.handle.net/10220/18410 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
مواد مشابهة
-
On the evolution of switching oxide traps in the HfO2/TiN gate stack subjected to positive- and negative-bias temperature stressing
بواسطة: Gao, Yuan, وآخرون
منشور في: (2014) -
Effect of lanthanum doping on tetragonal-like BiFeO3 with mixed-phase domain structures
بواسطة: You, Lu, وآخرون
منشور في: (2014) -
Negative-bias temperature instability – insight from recent dynamic stress experiments
بواسطة: Ang, Diing Shenp, وآخرون
منشور في: (2013) -
Nitrogen-enhanced negative bias temperature instability: An insight by experiment and first-principle calculations
بواسطة: Tan, S.S., وآخرون
منشور في: (2014) -
Hydrodehalogenation of aryl halides through direct electrolysis
بواسطة: Ke, Jie, وآخرون
منشور في: (2020)