History dependent magnetoresistance in lightly doped La2−xSrxCuO4 thin films
The in-plane magnetoresistance (MR) in atomically smooth La2−xSrxCuO4 thin films grown by molecular-beam-epitaxy was measured in magnetic fields B up to 9 T over a wide range of temperatures T. The films, with x=0.03 and x=0.05, are insulating, and the positive MR emerges at . The positive MR exhibi...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | مقال |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2013
|
| الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/105385 http://hdl.handle.net/10220/17553 http://dx.doi.org/10.1016/j.physb.2012.01.063 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|