Fabrication and characterization of InP/InGaAs Metamorphic heterojunction bipolar transistors (HBTs)

High gain metamorphic InP/InGaAs/InP DHBTs (double heterojunction bipolar transistors) on GaAs substrate fabricated using complete NTU in-house process have been demonstrated in this investigation. DC and RF characterization of various MHBTs (metamorphic HBTs), including noise and power measurements...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Yang, Hong
مؤلفون آخرون: K. Radhakrishnan
التنسيق: Theses and Dissertations
منشور في: 2008
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/3833
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University