Development of a failure assessment methodology for flip chip electronic assembly
In this project, two different solder bump materials are evaluated, they are lead-based 63Sn/37Pb solder and lead-free 96.5Sn/3.5Ag solder. Their solder joint fatigue lives on flip chip on board (FCOB) assembly are assessed by experimental testing and numerical modeling. FCOB assemblies are subjecte...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | Theses and Dissertations |
| منشور في: |
2008
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/5476 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|