Dielectric bonding for semiconductor-on-insulator applications
This report investigates the dielectric bonding between two wafers each comprised of a thin film of Aluminium Nitride (AlN) deposited onto a Si substrate as well as the preparations required to ensure the success of the bonding. The two AlN and Si wafers will be brought together under direct contact...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Final Year Project |
اللغة: | English |
منشور في: |
2014
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/60417 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |