Strain profile and size dependent electronic band structure of GeSn/SiSn quantum dots for optoelectronic application
We study self-assembled GeSn/SiSn quantum dots for optoelectronic application in the Silicon photonics domain. Valence force field and k.p methods are used to investigate the strain distribution and band structure with size effect.
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
اللغة: | English |
منشور في: |
2015
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/79533 http://hdl.handle.net/10220/25017 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
كن أول من يترك تعليقا!