ICMAT 2011 : Reliability and variability of semiconductor devices and ICs

• المؤلفون الرئيسيون: Asenov, Asen, Schlichtmann, Ulf, Tan, Cher Ming, Wong, Hei, Zhou, Xing
• مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
• التنسيق: مقال
• اللغة: English
• منشور في: 2013
• الموضوعات: DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering
• الوصول للمادة أونلاين: https://hdl.handle.net/10356/97814; http://hdl.handle.net/10220/11112

Abstract not available in fulltext.