DEVELOPMENT OF DROP-TEST SIMULATION AND RELIABILITY CHARACTERIZATION FOR IC PACKAGES

Master's

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: EDI ANTO
مؤلفون آخرون: SINGAPORE-MIT ALLIANCE
التنسيق: Theses and Dissertations
منشور في: 2019
الموضوعات:
BGA
SMD
الوصول للمادة أونلاين:https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/154135
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!