Quantitative material analysis using secondary electron energy spectromicroscopy

• المؤلفون الرئيسيون: Han, W., Zheng, M., Banerjee, A., Luo, Y.Z., Shen, L., Khursheed, Anjam
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: Nature Research 2021
• الوصول للمادة أونلاين: https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/199245
• المؤسسة: National University of Singapore

10.1038/s41598-020-78973-0