The Charge-Based Flicker Noise Model for HEMTs

• المؤلفون الرئيسيون: HAORUI LUO, XU YAN, WENRUI HU, YONGXIN GUO
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: IEEE 2021
• الوصول للمادة أونلاين: https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/202149
• المؤسسة: National University of Singapore

IEEE Microwave and Wireless Components Letters