The Charge-Based Flicker Noise Model for HEMTs

IEEE Microwave and Wireless Components Letters

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書目詳細資料
Main Authors: HAORUI LUO, XU YAN, WENRUI HU, YONGXIN GUO
其他作者: ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING
格式: Article
出版: IEEE 2021
在線閱讀:https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/202149
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機構: National University of Singapore